12月21日下午，我院成功举办第29期天元药学论坛，此次论坛聚焦“质谱技术前沿”，邀请到武汉大学的陈素明教授和魏振威教授作专题报告，学校国教院院长、药学院教授陈芸，南京大学闵乾昊教授出席，并吸引了全校近100名研究生参与，会议由陈芸教授主持。
陈芸教授在开场致辞中对陈素明教授和魏振威教授两位国家级人才的到来表示热烈欢迎，并表达了对深入交流与广泛合作的殷切期待。
陈素明教授率先登台，以“异构体水平的精准质谱分析”为题展开报告。他深入讲解了如何满足不同应用场景下对异构体水平精准、快速、实时分析的需求，其研究成果为生命和化学体系的分析与研究提供了关键技术支撑，让在场师生对异构体质谱分析有了全新的认识。
紧接着，魏振威教授带来“原位质谱技术在界面反应过程监测中的应用”的精彩报告。他详细介绍了自主设计与开发的浮地电化学电喷雾质谱分析系统，该系统可实现电化学催化与合成过程中微秒级中间体的定性与半定量分析，能精准获取反应物、中间体及产物随电化学过程进展的时间变化信息，有力推动了电化学合成与催化的机理研究。此外，他还分享了利用金属簇将反应界面直接送入质谱检测，原位分析界面化学反应过程的创新尝试，为界面化学研究进展带来新的可能。
在报告结束后的互动环节，两位教授与现场师生进行了深入的交流探讨，耐心解答疑问，现场气氛热烈，学术氛围浓厚。
此次天元药学论坛的成功举办，为我校师生提供了与学术前沿接轨的宝贵机会，拓宽了学术视野，激发了科研热情，对推动我院在质谱技术及相关领域的研究发展具有重要意义。
（撰稿/胡晔晨；图片/胡晔晨；审核/李歆、陈宏山）
